Микроскоп металлографический с дифференциальной интерференцией LBT-302DIC
Категория:
Ключевые слова:
Микроскоп металлографический с дифференциальной интерференцией LBT-302DIC
Электронная почта:
Описание
Описание продукта:
Обратноосветительный металлографический микроскоп LBT‑302DIC предназначен для микроскопического исследования непрозрачных объектов. Благодаря высококачественной бесконечной оптической системе и модульной концепции функционального дизайна устройство легко поддаётся модернизации, что позволяет реализовать такие режимы наблюдения, как поляризационное и темнопольное. Компактный, стабильный и обладающий высокой жёсткостью корпус полностью отвечает требованиям к виброустойчивости при проведении микроскопических исследований. Идеальный эргономичный дизайн обеспечивает более удобную и комфортную работу, а также увеличенное рабочее пространство. Микроскоп подходит для изучения проводящих частиц, металлографической структуры и поверхностной морфологии; он является оптимальным инструментом для исследований в области металловедения, минералогии и точной инженерии.
Особенности продукта:
Система наблюдения:
Шарнирный окулярный тубус: трёхокулярный, с регулируемой монокулярной настройкой, наклонён на 30°; встроенный анализатор позволяет свободно переключаться между обычным и поляризационным наблюдением; возможна подключение видеосистемы. Окуляры: широкополеовый плоскофокусный окуляр WF10X, поле зрения Φ18 мм, обеспечивает обширное и ровное поле наблюдения.
Платформа для образцов:
Стол для образцов с большим диапазоном перемещения: размер — 250 мм × 230 мм, диапазон перемещения — 154 мм × 154 мм.
Также доступна опция с платформой для образцов с чрезвычайно широким диапазоном перемещения: размер — 280 мм × 270 мм, диапазон перемещения — 204 мм × 204 мм.
Система эпифлуоресцентного освещения:
Освещение осуществляется галогенной лампой мощностью 6 Вт и номинальной мощностью 30 Вт (с регулируемой яркостью), что обеспечивает чёткое и контрастное микроскопическое изображение как при обычном осмотре в светлом поле, так и при поляризационном наблюдении. Встроенная поляризационная плёнка, диафрагма поля и апертурная диафрагма позволяют выполнять поляризационные наблюдения, эффективно контролировать поле зрения, регулировать его контрастность, а также производить регулировку центра поляризационной диафрагмы. Сменный фильтр‑набор включает жёлтый, зелёный и синий фильтры, а также матовое стекло, что обеспечивает освещение различной цветовой температуры для исследования самых разнообразных образцов.
Субъект:
Уникальная Т‑образная конструкция корпуса микроскопа обеспечивает повышенную устойчивость прибора и увеличивает полезное пространство. Сверхнизко расположенный передний коаксиальный механизм грубой и тонкой фокусировки снижает усталость оператора при длительном наблюдении. Регулировка натяжения рукоятки грубой настройки позволяет каждому пользователю осуществлять работу с максимально комфортным ощущением. Чёткое изображение объекта достигается за счёт управления подъёмом и опусканием предметного столика.
Технические параметры:
| Технические характеристики | |||
| Окуляр | Широкое поле зрения WF10X (диаметр поля зрения Φ22 мм) | ||
| Объектив | LBT-302DIC | LM 5X/0.12 BD, рабочее расстояние: 12 мм, ДИК | |
| (с объективом DIC) | LM 10X/0.25 BD Рабочее расстояние: 16 мм ДИК | ||
| LM 20X/0.40 BD Рабочее расстояние: 12 мм ДИК | |||
| LM 50X Рабочее расстояние: 9,15 мм | |||
| Окулярная трубка | Трёхокулярный окуляр наклонён на 30°, что обеспечивает 100‑процентное прохождение света для фотосъёмки. | ||
| Система эпифлуоресцентного освещения | RH-302DIC | Галогенная лампа 6 В, 30 Вт, с регулируемой яркостью 6 В, 30 Вт | |
| RH-302BD | Галогенная лампа 12 В, 50 Вт, с регулируемой яркостью 12 В, 50 Вт | ||
| Встроенные диафрагмы поля зрения и апертуры, устройство переключения цветовых фильтров (жёлтый, синий, зелёный, матовое стекло), выдвижной анализатор и поляризатор. | |||
| Фокусировочный механизм | Крупно‑микрофокусировка по коаксиальной оси, с устройством фиксации и ограничения хода, шкала микроподвижки | ||
| Конвертер | Пять отверстий (внутренняя шариковая внутренняя фиксация) | ||
| Платформа для образцов | Механический предметный стол, габаритные размеры: 280 мм × 270 мм, диапазон перемещения: по горизонтали (X) — 204 мм, по вертикали (Y) — 204 мм. | ||
Сопутствующий товар
Многофункциональный прибор для определения прочности бетона HC-40
Прибор для многопараметрического определения прочности бетона HC‑40 — это высокопроизводительное испытательное устройство, объединяющее несколько передовых технологий и специально разработанное для оценки прочности и качества бетона.
Интеллектуальный прибор для испытания на выдергивание анкерных болтов HC-200S
Интеллектуальный прибор для испытания на выдергивание анкерных болтов HC‑200S — это высокоточный измерительный инструмент, специально разработанный для инженерной сферы и направленный на повышение эффективности и точности испытаний на выдергивание анкерных болтов.
Интеллектуальный прибор для определения прочности сцепления облицовочной плитки HC-2000A
Интеллектуальный прибор для определения прочности сцепления облицовочной плитки HC‑2000A — это высокоточный испытательный аппарат, специально разработанный для отрасли строительных материалов.
Прибор для неразрушающего контроля анкерных болтов HC-AQT
Прибор для неразрушающего контроля анкерных болтов HC‑AQT — это высокотехнологичное устройство, специально разработанное для сфер строительства и гражданского инжиниринга.
Часто задаваемые вопросы
Отзывы клиентов
Европейский производитель пластиковых труб | Приобретение: прибор для испытания на жёсткость кольца и гидростатический пробой
2026.06.05
★★★★★
Лаборатория строительных технологий Ближнего Востока | Приобретение: универсальная электронная испытательная машина и оборудование для испытаний геотекстильных материалов
2026.06.05
★★★★★
Резиновая и полимерная фабрика Юго‑Восточной Азии | Приобретение: прибор для определения температуры размягчения по Вика и испытательная машина на растяжение
2026.06.05
★★★★★
Консультация
Мы свяжемся с вами в течение одного рабочего дня. Пожалуйста, проверьте свою электронную почту.
Ключевые слова:
Микроскоп металлографический с дифференциальной интерференцией LBT-302DIC